Головашкин А.И. , Шабанова Н.П. , Красносвободцев С.И. , Антоненко С.В. , Ноздрин В.С. , Жабрев Г.И. Чувствительность верхнего критического поля к дефектам структуры и электронные характеристики сверхпроводящих соединений NbC, Nb_3Sn,RBa_2Cu_3O_7(R=Y,Ho). Пр. ФИАН , N7 , с. 32 c. , 01.1996