Карузский А.Л. ,     Квит А.В. ,     Медведев С.А. ,     Клевков Ю.В. ,     Пересторонин А.В. ,     Свербиль П.П. Исследование глубоких примесных центров в ZNTe методом оптической спектроскопии вторичного излучения при Т=4.2К. Межд. конф."Физические процессы в неупорядоченных полупроводниковых структурах, г.Ульяновск, 1999 , с. С.56   Багаев В.С. ,     Зайцев В.В. ,     Онищенко Е.Е. ,     Квит А.В. ,     Медведев С.А. ,     Клевков Ю.В. ,     Цикунов А.В. ,     Пересторонин А.В. ,     Клоков А.В. ,     Якимов М.Я. Оптическая спектроскопия глубоких состояний в ZnTe. Физ. тверд. тела , Т.40,N6 , с. C.1010-1017 , 01.1998   Багаев В.С. ,     Плотников А.Ф. ,     Квит А.В. ,     Медведев С.А. ,     Клевков Ю.В. ,     Пересторонин А.В. Динамика измерения спектров фотолюминесценции образцов CdTe стехиометрического состава в зависимости от чистоты исходных компонентов. Физ. и техн. полупровод. , Т.34,N1 , с. C.19-22 , 01.2000   Багаев В.С. ,     Плотников А.Ф. ,     Квит А.В. ,     Медведев С.А. ,     Клевков Ю.В. ,     Пересторонин А.В. Динамика изменения спектров фотолюминесценции образцов стехиометрического состава в зависимости от чистоты исходных компонентов. Физ. и техн. полупровод. , Т.34,N1 , с. С.19-22 , 01.2000

	Наш адрес: 119991 ГСП-1 Москва В-71, Ленинский просп., 14 Телефон: 938-0309 (Справ. бюро) Факс: (495)954-3320 (Лен.пр.,14), (495)938-1844 (Лен.пр.,32а)	Назад