Динамика измерения спектров фотолюминесценции образцов CdTe стехиометрического состава в зависимости от чистоты исходных компонентов
Общая информация
Багаев В.С.
,
Плотников А.Ф.
,
Квит А.В.
,
Медведев С.А.
,
Клевков Ю.В.
,
Пересторонин А.В.
Физ. и техн. полупровод.
,
Т.34,N1
, 01.2000 , с. C.19-22
Copyright ©
БЕН РАН.
Наш адрес:
119991 ГСП-1 Москва В-71, Ленинский просп., 14
Телефон: 938-0309 (Справ. бюро)
Факс: (495)954-3320 (Лен.пр.,14), (495)938-1844 (Лен.пр.,32а)
Назад