РОССИЙСКАЯ АКАДЕМИЯ НАУК

ПРЕЗИДИУМ

ПОСТАНОВЛЕНИЕ

О частичном изменении Плана-графика проведения комплексных проверок научных учреждений РАН на 2010 год
(представление Отделения нанотехнологий и информационных технологий)

На основании постановления Бюро Отделения нанотехнологий и информационных технологий РАН от 18 марта 2010 г. № 1-ОЭ-20 Президиум Российской академии наук ПОСТАНОВЛЯЕТ:

1. Включить в План-график проведения комплексных проверок науч­ных учреждений РАН на 2010 год Учреждение Российской академии наук Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур РАН.

2. Провести комплексную проверку Учреждения Российской академии наук Научно-технологического центра микроэлектроники и субмикронных гетероструктур РАН во II квартале 2010 года.

3. Утвердить академика Пустовойта В.И. председателем комиссии по комплексной проверке Учреждения Российской академии наук Научно-технологического центра микроэлектроники и субмикронных гетерострук­тур РАН.

4. Внести соответствующие изменения в постановление Президиума РАН от 19 января 2010 г. № 12 «Об утверждении Плана-графика проведения комплексных проверок научных учреждений РАН на 2010 год».

5. Контроль за выполнением настоящего постановления возложить на главного ученого секретаря Президиума РАН академика Костюка В.В.

Президент
Российской академии наук
академик Ю.С. Осипов

Главный ученый секретарь
Президиума Российской академии наук
академик В.В. Костюк