Багаев В.С. ,     Копыловский Б.Д. ,     Гоголин О.В. ,     Артемьев Н.Л. ,     Ефимов Ю.А. Инфракрасный телевизионный микроскоп для исследования рекомбинационного излучения и оптических свойств полупроводников / Отв. ред. Д.В.Скобельцын. Электроника в физическом эксперименте , с. С.97-100